15. Technologie- und Anwenderkongress von National Instruments: “Virtuelle Instrumente in der Praxis”

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Am 27. und 28. Oktober veranstaltet National Instruments bereits zum 15. Mal den Technologie- und Anwenderkongress VIP 2010 “Virtuelle Instrumente in der Praxis”. Technologie- und Anwendervorträge, eine große Fachausstellung mit über 30 Produktpartnern und Systemintegratoren sowie Workshops machen den Technologie- und Anwenderkongress VIP 2010 "Virtuelle Instrumente in der Praxis"  im Veranstaltungsforum Fürstenfeld bei München zu einer einzigartigen Wissensplattform mit einem breit gefächerten Themenangebot. Dieses Jahr findet der Kongress wieder zweitägig statt. Selbstverständlich darf die Gettogether-Party mit hohem Networking-Faktor nicht fehlen.

Die rund 600 Teilnehmer erwartet in 16 verschiedenen, technisch anspruchsvollen Tracks, von denen jeweils neun parallel stattfinden, ein vielfältiges Programm, in dem sie Impulse erhalten, technologische Trends aufspüren und Kontakte knüpfen können. Das Kongressprogramm umfasst Themen wie Mess- und Prüftechnik, Fertigungs- und Baugruppentest, RF- und Wireless-Test, Prüfstandsautomatisierung, Technisches Datenmanagement und Design&Test im Automobilbereich.

Neben den 16 Workshops, in denen die Teilnehmer praktische Erfahrungen im Umgang mit NI-Produkten sammeln können, gibt es in diesem Jahr auch wieder eine Podiumsdiskussion, dieses Mal zum Thema "Ressourcen- und Energieeffizienz: Innovationen und Werkzeuge".

Highlights werden auch in diesem Jahr wieder die Keynotes sein. Zum Auftakt präsentiert Michael Dams, Director Central Europe, als Gastgeber Perspektiven, wie den aktuellen Herausforderungen am besten begegnet werden kann. Als prominenten Gastredner konnte National Instruments Johannes Lackmann, ehemals Präsident des Bundesverband Erneuerbare Energie e.V. (BEE) und einer der Mitbegründer des Erneuerbaren-Energien-Gesetzes (EGG), gewinnen, der über die Diskrepanz des technologisch Machbaren und des tatsächlich Umgesetzten referiert. Wie jedes Jahr darf auch die R&D-Keynote nicht fehlen, gehalten von Rahman Jamal, Technical Director Central Europe. Die Teilnehmer können gemeinsam mit ihm einen Blick in die Zukunft wagen und erfahren, welche neuen Technologien aus dem Hause National Instruments in nächster Zeit zu erwarten sind.

Im Anschluss an den VIP-Kongress 2010 findet speziell für Teilnehmer aus Ausbildungsstätten und Hochschulen ein kostenfreier Dozenten- und Ausbildertag statt. Am 29. Oktober stellen wir ihnen in einem breit gefächerten Vortrags- und Kursprogramm zukunftsweisende Lehrinhalte und Technologien vor und ermöglichen Einblicke in das NI-Academic-Programm.

Detaillierte Informationen zum VIP-Kongress 2010 und Anmeldemöglichkeiten gibt es im Internet unter www.ni.com/german/vip.

Wie in den vorherigen Jahr wurden auch für den VIP-Kongress 2010 die eingereichten Anwenderbeiträge in einem begleitenden Tagungsband zusammengefasst. "Virtuelle Instrumente in der Praxis – Begleitband zum Kongress VIP 2010" erscheint im VDE Verlag und ist unter der ISBN 978-3-8007-3235-7 erhältlich. Anhand von konkreten Applikationen aus der Praxis wird hier dokumentiert, wie Werkzeuge wie etwa LabVIEW, TestStand oder DIAdem von Anwendern erfolgreich eingesetzt werden.

Die Themenbereiche umfassen in der diesjährigen Ausgabe: Mess- und Prüftechnik, Prüfstandsautomatisierung, Fertigungs- und Baugruppentest, Halbleitertest, RF- und Wireless-Test, Daten-Streaming & vielkanalige Messsysteme, Automatisierungstechnik – PAC, Robotik & Mechatronik, Validierung von Embedded-Systemen, FPGAbasiertes Systemdesign, Design & Test im Automobil- und im Aerospacebereich, Green Engineering, Medizintechnik, Ausbildung und Lehre, Technisches Datenmanagement, LabVIEW Power Programming & Software Engineering.

Die beigefügte DVD enthält eine 30 Tage gültige Vollversion von DIAdem 2010, der neuesten Version von National Instruments’ technischer Standardsoftware für die interaktive und automatisierte Datenverwaltung, Analyse und Berichterstellung.

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