Control 2015: Messen und Kontrollieren mit Durchblick

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Control 2015: Messen und Kontrollieren mit Durchblick

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GE Measurement & Control präsentiert an der diesjährigen Control in Stuttgart auf seinem Messestand 1114 in Halle 1 eine Vielzahl von Produktneuheiten und zahlreiche Lösungsbeispiele aus seinem Gesamtportfolio im Bereich der zerstörungsfreien Werkstoffprüfung und industriellen Prozesskontrolle mittels Röntgenprüfung, CT, Ultraschall, RVI und Wirbelstrom.
ge_speedscan_ct_64_tomograf

GE Measurement & Control präsentiert an der diesjährigen Control in Stuttgart auf seinem Messestand 1114 in Halle 1  eine Vielzahl von Produktneuheiten und zahlreiche Lösungsbeispiele aus seinem Gesamtportfolio im Bereich der zerstörungsfreien Werkstoffprüfung und industriellen Prozesskontrolle mittels Röntgenprüfung, CT, Ultraschall, RVI und Wirbelstrom.

Der Hauptschwerpunkt liegt auch in diesem Jahr im Bereich der industriellen Computertomographie. Dank zunehmender Automatisierung und der Ausweitung der Analysemöglichkeiten von der reinen 3D-Fehleranalyse hin zu zusätzliche dimensionalen Präzisionsmessungen wandert industrielle CT nun von den Qualitätslaboren auf die Produktionsebene für die unmittelbare Prozessoptimierung.

Neben präziser 3D-Metrologie in Anlehnung an die VDI Richtlinie 2630 und dem neuen kompakten hoch automatisierten  v|tome|x c Computertomographen für die Prüfung von großen Leichtmetallgussteilen oder Turbinenschaufeln ist die zweite Generation des extrem schnellen Helix-CT Systems speed|scan CT 64 das absolute Highlight auf dem GE Messestand. Basierend auf medizinischer CT scannt der Tomograf selbst Zylinderköpfe in bis zu lediglich 15 Sekunden und erlaubt damit einen besonders hohen Probendurchsatz für optimierte Gussprozesse und beschleunigte Produktionslanläufe. Auf dem GE Messestand 1114 in Halle 1 werden interessierten Besuchern regelmäßig Live-Demos angeboten.  

Bild: Live speed|scan CT Vorführung auf der Control: Industrielle Helix-CT erlaubt es, große  Gussteile vielhundertfach schneller zu scannen als konventionelle Fächerstrahl-CT. Quelle: GE Measurement & Control

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